心肌梗塞病人心室晚电位与电程序刺激的相关性及其预后意义  

作　　者：张宝娓[1] 胡大一[1] 林传骧[1] 丁燕生[1] 朱国英[1] 高炜[1] 王乐信[1] 董金文[1] 霍勇[1] 冯大力[1] 

机构地区：[1]北京医科大学第一医院心内科

出　　处：《中华心血管病杂志》1995年第1期30-33,共4页Chinese Journal of Cardiology

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：对４８例心肌梗塞（ＭＩ）病人的心室晚电位（ＶＬＰ）检测与自发和心室电程序刺激（ＥＰＳ）诱发单形性持续性室性心动过速（ＳＭＶＴ）的相关性的研究表明：（１）临床无自发持续室速者ＶＬＰ和ＥＰＳ阳性率分别为１９％和２６％；（２）ＥＰＳ诱发ＳＭＶＴ者ＶＬＰ检出率（６２．５％）高于未诱发者（９．４％）；（３）ＶＬＰ阳性者ＥＰＳ－ＳＭＶＴ诱发率（７６．９％）高于ＶＬＰ阳性者（１７．１％）（Ｐ＜０．０５）。结果显示ＶＩＰ有较高的ＥＰＳ－ＳＭＶＴ预测率，ＶＬＰ对ＥＰＳ结果预测敏感性、特异性、阳性准确性和阴性准确性分别为７５％，９０％，７５％和９０％。ＶＬＰ和ＥＰＳ均阴性者可看作是ＭＩ后低危人群。

关 键 词：心肌梗塞 心室晚电位 电生理学 

分 类 号：R542.220.4[医药卫生—心血管疾病]