简易低温样品室的研制及应用  

DEVELOPMENT AND APPLICATION OF THE SIMPLE LOW TEMPERATURE SAMPLE ROOM

作　　者：薛青[1] 李亚东[1] 陈武 朱大兵 

机构地区：[1]苏州大学分析测试中心

出　　处：《苏州大学学报（自然科学版）》1995年第3期62-64,共3页Journal of Soochow University(Natural Science Edition)

摘　　要：本文叙述了简易低温样品室的设计原理、结构性能和它在电阻(R)—温度(T)测试仪中的应用。在Ni Ti形状记忆合金相变规律的研究中,测试和分析了该合金的二种典型的电阻(R)—温度(T)曲线。This paper relates the designing principle,structures, properties and applications of the simple low temperature sample room in the resistance - temperature apparatus. In the study of the phase transformation of the NiTi shape memory alloy,the two kinds of the R - T curves are determined and analysed.

关 键 词：低温 样品室 电阻 温度 相变 形状记忆合金 

分 类 号：TG139.6[一般工业技术—材料科学与工程]