用光折变效应测量半绝缘InP：Fe的电阻率分布  

作　　者：云长 

出　　处：《电子材料快报》1995年第12期11-11,共1页

关 键 词：光折变效应 测量 InP:Fe 电阻率 集成光学材料 

分 类 号：TN25[电子电信—物理电子学]