照准仪测图缺陷之分析及消除方法  

作　　者：王文斌 

出　　处：《测绘技术》1995年第4期31-32,共2页

摘　　要：本文在目前经纬仪配合小平板测图方法的基础上，提出了新的测图计算方法，新方法保留了原方法的优点，大大地提高了测图效率。

关 键 词：照准仪 测图 缺陷 消除法 

分 类 号：P231.5[天文地球—摄影测量与遥感]