Si热敏电阻的R-T特性与其结构间关系的研究  

The Study on R-T Character of Silicon Thermal Resistor

作　　者：李国正[1] 刘润民[1] 

机构地区：[1]西安交通大学电子工程系,西安市710049

出　　处：《传感技术学报》1995年第2期24-27,共4页Chinese Journal of Sensors and Actuators

摘　　要：通过对Si热敏电阻的R-T特性的测试和分析,得到了R-T特性与元件结构之间的一些有益的关系.Some useful relations between R-T character and element structure are de-rived by means of the measurement and analysis on the R-T character of silicon thermalresistor.

关 键 词：热敏电阻 正温度系数 硅 R-T特性 元件结构 

分 类 号：TN373[电子电信—物理电子学]