以截尾子样估计威布尔故障率函数的子样容量  

作　　者：William Q.Meeker Jr. Luis A.Escobar David A.Hill 张皓[1] 

机构地区：[1]杭州电子工业学院,310037

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》1995年第3期10-18,共9页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：对于试验者设计一个寿命试验的重要部分是确定为达到一个特定的精密度所必需的子样容量。故障率函数常被用作判决准则,在替换决定的时候尤其如此。在本文中我们说明了为选择这个子样容量,必需以一个特定的精密度估计某点上的故障率函数,我们提供一个易用的程序,它能用在威布尔分布以及达到预定的试验时间以后而终止的寿命试验上。说明了对其它的失效时间分布和其它的寿命试验类型的应用方法。

关 键 词：失效率 寿命试验 集成电路 

分 类 号：TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]