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作 者:孟祥康[1] 洪建明[1] 刘毅[1] 赵小宁[1] 刘治国[1]
机构地区:[1]南京大学固体微结构物理实验室,南京大学现代分析中心,上海交通大学材料科学系
出 处:《电子显微学报》1995年第1期6-9,共4页Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基 金:国家自然科学基金及中国博士后科学基金
摘 要:利用弱束暗场技术及透射电镜拉伸台观察了二相TiAl基金属间化合物层片结构中的位错组态。发现层片结构中含有丰富的位错网络、位错亚晶界以及界面位错墙。位错与拉伸变形时的位错滑移线均可贯通TiAl及Ti_3Al层片,反映了层片间的协调变形。Dislocation configurations and the crack propagation in a two-phase lamellar TiAl-based intermetallic com-pound were studied using the weak beam technique of transmission electron microscopy (TEM)and the TEMtensile testing stage,respectively. The abundant dislocation networks,dislocation sub-boundaries and interfa-cial dislocation walls were observed in the lamellar TiAl/Ti_3Al structure, It was also found that dislocations andtheir slip lines cut-through the TiAl lamella and the adjacent Ti_3Al lamella,which inferred the co-operative de-formation of the lamellae.
分 类 号:TG146.23[一般工业技术—材料科学与工程] TG115.21[金属学及工艺—金属材料]
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