MPF—4荧光光谱仪波长系统故障分析及排除  

作　　者：马耀廷[1] 

机构地区：[1]中国科学院长春应用化学研究所,长春130022

出　　处：《分析仪器》1995年第3期53-54,共2页Analytical Instrumentation

摘　　要：报道了MPF—4荧光光谱仪波长系统的故障分析和排除方法,给出了故障的修复实例,并介绍了波长的校正方法和步骤。

关 键 词：荧光光谱仪 故障排除 波长校正 

分 类 号：TH744.16[机械工程—光学工程]