仪器质量与IC检测技术  

作　　者：王秉时 金晓思[2] 

机构地区：[1]浙江海盐胶本电器厂 [2]上海同济大学

出　　处：《仪表技术与传感器》1989年第1期2-8,共7页Instrument Technique and Sensor

摘　　要：本文分析了集成电路装机前检测的必要性;参数检测与功能检测的概念、作用、使用场合和优缺点;功能检测的环境条件、特点及对检测码的要求;简单介绍了静态、动态、实时三种功能检测技术;实装法、比较法、信征法和替换法等IC功能检测法;配备微机的辅助测试系统、借助单扳机配接接口电路的IC测试仪、以微机处理器为基础构成的专用自动测试装置等检测设备;给出一张完整的IC装机前检测大系表。

关 键 词：仪器质量 集成电路检测 IC检测 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]