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作 者:王雨[1] 桂治轮[1] 李龙土[1] 张孝文[1]
机构地区:[1]清华大学材料科学与工程系
出 处:《硅酸盐学报》1995年第2期164-169,共6页Journal of The Chinese Ceramic Society
基 金:国家自然科学基金;国家教委博士点重点基金
摘 要:镁、锰同时掺杂的PMN-PZN-PT低烧陶瓷表现出明显的介电老化现象,恒温老化时,材料室温的介电常数及介电损耗随时间延长而下降,在室温下老化约100h后介电性能基本稳定。老化过程中的一定时间范围内,介电常数或电容变化率与老化时间的对数值呈线性关系。材料老化的程度与老化温度密切相关。The dielectric ageing behaviour of low-temperature sintered PMN-PZN-PT ceramics withaddition of MnO_2 and excess MgO was investigated. The isothermal ageing at room temperature results in thedecline of e and tgδ of the sample and this process lasted for about 100 hour.After that the properties be-come stabilized. In a certain duration of ageing there exists a linear relation between ε and natural logarithmof ageing time.The ageing temperature has an important influience on the change of capacitance of the sample·
分 类 号:TQ174.15[化学工程—陶瓷工业] TQ174.66[化学工程—硅酸盐工业]
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