星载设备抗单粒子效应的设计技术初探  

Design Method of On-Board Equipment Tolerance of Single Event Phenomena

作　　者：王长龙[1] 沈石岑 张传军 

机构地区：[1]北京控制工程研究所

出　　处：《航天控制》1995年第3期24-30,9,共8页Aerospace Control

摘　　要：本文探讨了现代星载设备研制过程中遇到的抗辐射设计问题之一，即抗单粒子效应的设计问题，首先简单介绍高能粒子引起的单粒子效应──单粒子翻转（ＳＥＵ）和单粒子锁定（ＳＥＬ），在此基础上分别探讨了星载设备抗ＳＥＬ和抗ＳＥＵ的设计方法。In this paper,a radiation-tolerant design method for single event phenomena(SEP), which should be considered in the development of modern on-board equipment,is discussed.An introduction of SEP covering single event upset(SEU)and single event latch-up(SEP)induced by high evergetic particle is given,and then the design method of on-board equipment to tolerate SEP is presented.

关 键 词：吴载计算机 抗辐射 抗单粒子效应 

分 类 号：V443[航空宇航科学与技术—飞行器设计]