分光光度法测高纯氧化铁中的微量硅  

作　　者：张超民 

机构地区：[1]上海化工高等专科学校,210000

出　　处：《河南化工》1995年第4期25-26,共2页Henan Chemical Industry

摘　　要：研究了用4.7—二苯基邻菲罗啉为显色剂,分光光度法测定高纯氧化铁中微量硅的方法.探讨了四氟化硅的定量分离,硅钼酸的萃取,钼酸(Ⅵ)还原为钼(Ⅲ)等的最佳条件.结果表明,硅的回收率≥99%,相对标准偏差≤2.2%.

关 键 词：分光光度法 硅 氧化铁 

分 类 号：TQ138.11[化学工程—无机化工]