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作 者:赵举廉[1] 杨俊霞[1] 褚云汉[1] 顾里平[1] 赵进豪[1]
机构地区:[1]昆明物理研究所
出 处:《红外技术》1995年第6期1-3,7,共4页Infrared Technology
摘 要:本文导出了红外探测器探测度D*(T,f,l)与光谱匹配因数α(ωλT,rλ)之间的关系,对D*(500K,f,l)值进行了探讨。由于实际应用中目标温度差别很大,D*(500K,f,l)值与实际探测结果并不一致。笔者导出了一个重要的关系式:D*(T,f,l)=K(T,rλ)D*(500K,f,l)。给出了HgCdTe、Insb和PbS红外探测器的一种K—T曲线。提出了迅速简便获得D*(T,f,l)值的修正系数法,从而得到与实际应用结果相一致的D*(T,f,l)值。The relation between detectivity D*(T, f) of IR detector and spectral matching factor a(ωλT,rλ) has been setup in this paper. The value of D*(500, f, 1) is inconsistent with the detection results, owing to the big difference in temperature of the targets. An important expression:D*(T,f, 1) =K(T, rλ) D*(500,f, 1) has ho derived and K-T curves for HgCdTe, InSb and PbS detectors are given. A correction coefficient method has been developed for easily obtaining the D*(T,f, 1) values Which is consistent with the practical detection.
分 类 号:TN215[电子电信—物理电子学]
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