测试码生成简述  

作　　者：梁业伟[1] 

机构地区：[1]中国科学院计算所CAD开放实验室,北京计算机学院,北工大计算机学院

出　　处：《计算机辅助设计与制造》1995年第2期34-37,共4页

摘　　要：测试码生成简述中国科学院计算所ＣＡＤ开放实验室梁业伟北京计算机学院一、测试基本概念数字电路的测试有电性能测试和逻辑测试。逻辑测试的目的是检查电路的逻辑性能是否完好，是否存在逻辑故障。逻辑性能不完好，有错误，则说明存在逻辑故障。这里谈的是逻辑性能，不是...

关 键 词：数字电路 测试码生成 测试 逻辑测试 

分 类 号：TN790.7[电子电信—电路与系统]