检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]西安电子科技大学,西安710071 [2]静冈大学
出 处:《仪器仪表学报》2005年第7期764-770,共7页Chinese Journal of Scientific Instrument
基 金:国家自然科学基金(60072037)资助项目。
摘 要:就IEEE仪器与测量技术大会(IMTC)近四年来会议文章的分布情况反映了近年来国外在仪器与测量方面的研究热点和科技与工业发展对仪器及测量技术的需求。也针对国外在该领域近年来的研究工作比较集中的传感器和信号处理的热点进行了概括。同时还就测试计量领域最有代表性的时频测控技术的发展、近年来在国际上的影响反映了仪器与测量技术与现代科学技术的最新成就之间的互为依存的关系。Based on the paper distribution in IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference(IMTC)in recent four years(from 1999 to 2002),the recent topics in the instrumentation and measurement area and the requirement to the measurement technology from science and industries are discussed. This paper also introduces the research situation of sensors and signal processing which have a very important position in the area and recent years. It also introduces the development of time and frequency measurement and control techniques which are the most representative in the metrology area. It can reflect the relationship among instruments and the newest achievements of science and technology.
分 类 号:TP701[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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