星载设备抗单粒子效应的设计技术初探  

作　　者：王长龙[1] 沈石岑 张传军 

机构地区：[1]北京控制工程研究所

出　　处：《控制工程（北京）》1995年第4期1-6,13,共6页

摘　　要：本文探讨了现代星载设备研制过程中遇到的抗辐射设计问题之一,即抗单粒子效应的设计问题。首先简单介绍高能粒子引起的单粒子效应—单粒子翻转(SEU)和单粒子锁定(SEL)。

关 键 词：单粒子现象 翻转 锁定 抗辐射 星载设备 

分 类 号：V44[航空宇航科学与技术—飞行器设计]