CMOS数字电路的开路故障可测性设计技术  

作　　者：刘建都[1] 

机构地区：[1]陕西三原空军导弹学院,陕西三原713800

出　　处：《微电子技术》1995年第2期34-37,共4页Microelectronic Technology

摘　　要：随着器件尺寸的减小和集成度的提高，CMOS技术将成为数字VLSI电路的主要技术。但是，由于CMOS电路本身结构的一些特点，使电路中管子的开路故障不能用现有的测试程序产生可靠的测试码。因此，出现了许多CMOS电路的开路故障可测性设计方案。本文首先说明了CMOS电路的特．或以及通过例子测试CMOS电路开路故障所存在的问题，然后列举了其它几种设计方案，指出了它们存在的缺点，最后提出了比它们更优越、应用范围更广的设计方案。

关 键 词：开路故障 可测性 设计 CMOS 数字电路 

分 类 号：TN431.207[电子电信—微电子学与固体电子学]