测试访问门和边界扫描结构—IEEE 1149.1标准  

作　　者：黄建文[1] 肖铁军[1] 

机构地区：[1]江苏理工大学计算机系

出　　处：《微电子测试》1995年第4期13-18,共6页

摘　　要：测试访问门和边界扫描结构—IEEE1149.1标准,定义了置入IC内部的标准测试逻辑结构,以支持IC内部的逻辑测试;IC间相互连接的测试;IC正常运行时的取样测试。文章较全面地介绍该标准,并结合实例加以阐明。

关 键 词：集成电路 VLSI电路 测试访问门 边界扫描结构 

分 类 号：TN470.7[电子电信—微电子学与固体电子学]