光热辐射测量对簿层材料的无损检测  

作　　者：周根元 李佩赞[1] 

机构地区：[1]苏州大学

出　　处：《无损探伤》1995年第2期45-47,共3页Nondestructive Testing Technology

摘　　要：本文简要介绍了光热辐射测量技术对薄层复合材料检测的原理,并探测了胶合材料的粘结状态及单层样品的表面缺陷.用振幅和位相二个可测因子同时测量,提高了探测的可靠性.

关 键 词：光热辐射测量 无损检验 薄层材料 

分 类 号：TB302.5[一般工业技术—材料科学与工程]