电子万能试验机卡头偏斜对拉伸试验的影响  

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作  者:黄帆[1] 刘承安 

机构地区:[1]北京联合大学自动化工程学院 [2]北京科技大学

出  处:《物理测试》1995年第6期27-28,共2页Physics Examination and Testing

摘  要:对中度合格,但卡头偏斜的电子万能试验机会给拉伸试件产生附加应力。本文介绍了对这样一台岛津电子万能试验机引起的附加力的测试,分析了试件中的附加应力,并总结了它与σ_b之比对断口位置的影响,阐明了对卡头偏斜度检查的必要性。

关 键 词:偏斜度 对中度 附加应力 拉伸试验机 

分 类 号:TH87[机械工程—仪器科学与技术]

 

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