X射线φ扫描及其在高温超导薄膜分析中的应用  

作　　者：常世安[1] 陈岗峰 马平[1] 杨坚[1] 古宏伟[1] 袁冠森[1] 

机构地区：[1]北京有色金属研究总院

出　　处：《稀有金属》1995年第6期459-460,共2页Chinese Journal of Rare Metals

摘　　要：Ｘ射线φ扫描及其在高温超导薄膜分析中的应用常世安，陈岗峰，马平，杨坚，古宏伟，袁冠森（北京有色金属研究总院１０００８８）关键词：Ｘ射线衍射，高温超导薄膜Ｘ射线衍射仪的常规θ－２θ扫描只能对平行于试样表面特定晶面进行检测￣［１］．而无法区别是单晶、外延...

关 键 词：X射线衍射 高TC 超导薄膜 薄膜 

分 类 号：TM26[一般工业技术—材料科学与工程] O657.39[电气工程—电工理论与新技术]