再谈光纤接头损耗的测试  

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作  者:冯涛[1] 郑洋[1] 

机构地区:[1]中国联通东莞分公司

出  处:《中国科技信息》2005年第16A期219-219,共1页China Science and Technology Information

摘  要:由于影响光纤测试结果的因素很多,本文通过理论分析,就OTDR的工作原理、几种引起光纤损耗的因素以及使用OTDR测接头损耗存在的一些问题等方面展开讨论,从而提出正确的测试方法。

关 键 词:单模光纤 模场直径 背向瑞利散射 损耗测试 OTDE 通信工程 

分 类 号:TN913.33[电子电信—通信与信息系统]

 

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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