扫描隧道显微学在薄膜量子生长中的应用  

Quantum size effects in thin films studied by scanning tunneling microscopy

作　　者：薛其坤[1] 

机构地区：[1]中国科学院物理研究所表面物理国家重点实验室,北京100080

出　　处：《电子显微学报》2005年第4期243-243,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：国家自然科学基金资助项目(No.10174089;10274002;60021403;60128404);国家科技部973项目的资助(No.2002CB613502).

关 键 词：薄膜材料 量子力学 扫描隧道 显微学 一维方势阱 电子态密度 应用 生长 干涉现象 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]