LaNi_5合金氚老化效应的微观机理  

作　　者：平飞林[1] 蒋刚[1] 张林 朱正和[1] 

机构地区：[1]四川大学原子与分子物理研究所,成都610065 [2]激光聚变研究中心,绵阳621900

出　　处：《中国科学（G辑）》2005年第4期424-434,共11页

基　　金：国家自然科学基金(批准号:10076009);中国工程物理研究院联合基金资助项目

摘　　要：应用密度泛函方法对LaNi5H6双胞及四面体间隙、八面体间隙和十二面体间隙位置的氢用氦来代替的双胞La2Ni10H11He进行了结构优化和能量计算.对优化后的晶体结构、能带结构、电子态密度(DOS)分布和XRD的进行了分析,计算了LaNi5中不同间隙位置的氦、氚形成能,得到氚衰变产生的3He一般处在八面体和十二面体间隙位置并优先从四面体间隙位置向十二面体间隙位置聚集,氦的存在使晶格膨胀和电子态密度(DOS)分布发生变化导致了氚老化过程中P-C-T曲线的坪台压降低、斜坪增大,氦周围的深势阱是形成氚尾的主要原因之一.

关 键 词：LANI5合金 密度泛函 电子结构 氚老化效应 氦 微观机理 老化效应 P-C-T曲线 氚 电子态密度 

分 类 号：TG139.7[一般工业技术—材料科学与工程]