半导体激光器老化测试智能控制系统  

Smart control system for LD aging test

作　　者：阮颖[1] 王学忠[1] 郭晶[1] 郭伟玲[1] 崔碧峰[1] 沈光地[1] 

机构地区：[1]北京工业大学电子信息与控制工程学院,100022

出　　处：《微计算机信息》2005年第08S期30-31,83,共3页Control & Automation

基　　金：国家863成果产业化技术研究资金资助项目项目编号:H010110310112

摘　　要：本文介绍了一个能对半导体激光器进行老化测试的智能控制系统。相对于已有系统,该系统采用一个经过MAT-LAB优化设计的半导体激光器驱动电路,电路结构更为简单。控制系统能够同时在恒定电流老化筛选和恒定光功率老化筛选模式下,对多个半导体激光器进行老化测试。该系统的实验表明,工作稳定,性能良好。In this paper, a smart control system for semiconductor laser ageing test is described. Compared to prior system2, this system can work in constant current aging mode and in constant power aging mode at the same time based on a new driver circuit which is designed and optimized by MATLAB. The experiment tell that the control system perform well enough to apply in LD aging test.

关 键 词：半导体激光器 老化 筛选 驱动电路 智能化测试系统 MATLAB 优化设计 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]