SOC测试矢量压缩技术  

Th SOC Test Vector Comress Technology

作　　者：郭凯[1] 方向忠[1] 邓宁[1] 

机构地区：[1]上海交通大学

出　　处：《电子测量技术》2005年第4期39-40,共2页Electronic Measurement Technology

摘　　要：为了减少SOC芯片的测试容量和缩短测试时间,可以在下载前压缩测试数据。文中利用SOC测试矢量间的相关性,提出基于矢量间编码的压缩算法,在有很好的压缩效率的同时,它的解压缩算法能够很简单地在嵌入式微处理器上用软件实现。An effective approach to the reduction of the test data volume and test time is to compress test data before download. In this paper, we propose a new test data compression method. The proposed approach can achieve significant amount of compression while its decompression algorithm can be easily realized with an embedded microprocessor.

关 键 词：测试矢量 嵌入式微处理器 SOC芯片 压缩技术 压缩算法 测试时间 测试数据 压缩效率 软件实现 编码 

分 类 号：TN790.7[电子电信—电路与系统] TP332[自动化与计算机技术—计算机系统结构]