透射电子显微镜像差的简化分析  

The simplified analysis of the aberration of the transmission Electron Microscope

作　　者：魏功祥[1] 万云芳[1] 

机构地区：[1]山东理工大学物理学院,山东淄博255049

出　　处：《山东理工大学学报（自然科学版）》2005年第4期56-61,共6页Journal of Shandong University of Technology:Natural Science Edition

摘　　要：通过对透射电子显微镜像差的简化分析,得到在透射电子显微过程中最佳离焦量的选择原理,并进一步讨论了消除像差影响的方法,给电子透射显微像的数字模拟提供了较简便的处理方法.Based on the simplified analysis of the aberration of the transmission electronic microscope, the principle of selecting optimum defocus in the image is carried. Furthermore, the method of eliminating the aberration is discussed which is simply used in the digital simulation of transmission electronic microcopy.

关 键 词：像差 球差 离焦量 

分 类 号：TB3[一般工业技术—材料科学与工程] TN16[电子电信—物理电子学]