ispLSI测试  

ispLSI TEST

作　　者：石坚[1] 吴丹[1] 韩红星[1] 

机构地区：[1]武汉数字工程研究所,武汉430074

出　　处：《计算机与数字工程》2005年第9期85-88,共4页Computer & Digital Engineering

摘　　要：讨论ispLSI可编程器件测试方法和技术,介绍功能测试模型;提出了逻辑功能测试和时间延迟测试的实现方法。This paper discusses the the method and technologies of ispLSI PLD, introduces the test mode of function. It presents a test method for logic function and timing delay.

关 键 词：ISPLSI 可编程器件 测试 

分 类 号：TP392[自动化与计算机技术—计算机应用技术]