亚波长金属/电介质双层光栅偏振片  

Polarizer Based on Double-Layer Subwavelength Metal-Dielectric Grating Structure

作　　者：廖艳林[1] 韩正甫[2] 曹卓良[1] 

机构地区：[1]安徽大学物理系,安徽合肥230039 [2]中国科学技术大学中科院量子信息重点实验室,安徽合肥230026

出　　处：《中国科学技术大学学报》2005年第5期650-655,共6页JUSTC

基　　金：国家自然科学基金(69876034)

摘　　要：用严格耦合波分析亚波长金属光栅和高频电介质光栅的衍射性质,给出了亚波长金属/电介质双层光栅偏振片的设计,同时通过严格耦合波分析给出了这种偏振片的TM波的反射特性和反射偏振比.The diffraction characteristics of subwavelength metallic and dielectric gratings are discussed by means of rigorous coupled-wave analysis （RCWA）. A double-layer subwavelength metal-dielectric grating used as polarizer is presented. At the same time, reflectivity properties for the TM polarization and the reflection polarization ratio of the polarizer are attained with RCWA.

关 键 词：亚波长光栅 耦合波理论 双层光栅 偏振片 

分 类 号：O436.3[机械工程—光学工程]