屏蔽暗室归一化场地衰减测试  

作　　者：汪开龙[1] 李正军[1] 陈淑凤[1] 王胜利 康有超 余世里 

机构地区：[1]西安空间无线电技术研究所,工程师710000 [2]兵器工业部第206研究所

出　　处：《空间电子技术》1996年第3期59-63,共5页Space Electronic Technology

摘　　要：描述了屏蔽暗室归一化场地衰减的概念、测试方法以及场地有效性判定准则,最后介绍了504所屏蔽暗室归一化场地衰减的测试结果。

关 键 词：电磁兼容性 屏蔽暗室 场地衰减 测量 

分 类 号：TN03[电子电信—物理电子学]