器件的失效与DC参数测试系统的关系  

作　　者：邵金仙[1] 

机构地区：[1]陕西临潼中国航天工业总公司七七一所

出　　处：《电测与仪表》1996年第5期11-15,共5页Electrical Measurement & Instrumentation

摘　　要：本文叙述集成电路测试中遇到的几个主要问题，分析了器件测试中经常使用的ＤＣ参数测试系统的结构、与其失效参数的关系及改进的方法。对集成电路生产、测试与使用者均有一定参考作用。

关 键 词：集成电路 DC参数 加电测量 测试系统 

分 类 号：TN430.7[电子电信—微电子学与固体电子学]