一种计算稀土材料陷阱深度的新方法  

A New Method of Calculating Trap Depth of Rare Materials

作　　者：王丽伟[1] 徐征[1] 滕枫[1] 张福俊[1] 姜薇薇[1] 孟立建 

机构地区：[1]北京交通大学光电子技术研究所信息存储与显示重点实验室,北京100044 [2]波尔图理工大学工程学院

出　　处：《中国稀土学报》2005年第5期586-589,共4页Journal of the Chinese Society of Rare Earths

基　　金：国家基金(10374001);973(2003CB314707);国家基金-重点项目(10434030);中国博士后基金(2003034324);北京市自然科学基金(2032015)资助项目

摘　　要：表征陷阱材料的主要物理量是陷阱深度,准确计算出陷阱深度对于研究陷阱材料具有重要的意义。从能带模型出发,利用速率方程分析了整个热释光过程,提出了一种计算稀土材料陷阱深度的新方法,替代以往利用单分子或双分子近似计算陷阱深度的方法。以SrAl2O4∶Eu2+,Dy3+及Sr4Al14O25∶Eu2+,Dy3+材料为研究对象,计算了陷阱深度。研究表明,这种计算方法能更准确、真实地描述其物理过程。The mainly characteristic of trapping materials is the trap depth. So it is significant to calculate the trap depth for the trapping materials. The present paper brought forward a new method of calculating trap depth which is based on energy band and uses rate equations to analyze thermoluminescence. This method can replace traditional methods such as first order or second order kinetics. The trap depth of SrAl2O4 ： Eu, Dy and Sr4Al14O25：Eu, Dy was estimated from the glow curve. From the results of experiments and calculations, this method can accurately indicate the whole process.

关 键 词：发光动力学 热释发光曲线 陷阱深度 稀土 

分 类 号：O433.4[机械工程—光学工程]