利用类X模系统分析方法计算RAID可靠性指标  

作　　者：孟令奎 高劲松 

出　　处：《微型计算机》1996年第4期81-82,共2页MicroComputer

摘　　要：本文借助于可修复二模和三模系统的分析方法以及Ｍａｒｋｏｖ过程，对廉价磁盘冗余阵列的可靠性指标进行了推导，适合于ＲＡＩＤ１－ＲＡＩＤ６六种阵列结构形式。

关 键 词：模系统 RAID 可靠性 磁盘驱动器 

分 类 号：TP333.35[自动化与计算机技术—计算机系统结构]