检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《真空科学与技术学报》2005年第5期331-334,共4页Chinese Journal of Vacuum Science and Technology
摘 要:彩色CRT的偏转误差主要包括会聚误差和光栅误差,测量会聚误差和光栅误差是验证偏转线圈偏转特性的重要手段。会聚误差取决于R/G/B三束在屏上相互之间的距离量,而G束形状则决定了屏上光栅的误差量。基于彩色CRT光点测试系统所配置的一种高精度且又灵活的多功能测试系统,其测量对象是经过偏转线圈自身会聚及光栅误差校正的“裸管”。“双光点测量法”的应用可完全消除会聚误差测量中的驱动抖动误差,而运用“单线测量法”可使光栅误差测量过程最简化。因此,测试系统能最大限度地重复运用测量设备,并以最简化的系统配置实施精确的测量。A “double-spot” sampling technique has been successfiaUy developed to experimentally evaluate the deflection errors, both convergence and raster errors, of a color cathode ray tube (CRT). The double-spot samping completely eliminates the driving jittery error in measuring convergence error and the “single-line measurement” simplifies raster error evaluation. Its technical strengths include simple configuration, better accuracy, high repetition, low cost, and user friendliness.
分 类 号:TN141.32[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.239