半导体测试GPIB接口的联合调试系统  

Trouble Shooting System of Semiconductor Test GPIB Interface

作　　者：张妍[1] 金杰[1] 

机构地区：[1]天津大学

出　　处：《电子产品世界》2005年第12B期83-85,共3页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：复杂的半导体自动测试系统如果出现GPIB接口问题将影响测试生产的效率,本文开发的半导体自动测试GPIB接口的联合调试系统,可以分别与测试系统和测试机进行接口调试,以帮助工程师解决在实际测试生产中半导体自动测试系统的GPIB接口问题。

关 键 词：半导体测试 自动测试系统 测试系统 测试机 GPIB 联合调试系统 

分 类 号：TN307[电子电信—物理电子学] TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]