JTAG技术的发展和应用综述  

An Overview of JTAG Technology: Development and Application

作　　者：胡学良[1] 张春[1] 王志华[1] 

机构地区：[1]清华大学电子工程系线路与系统教研室,北京100084

出　　处：《微电子学》2005年第6期624-630,共7页Microelectronics

基　　金：国家重大基础研究发展计划"系统芯片(SOC)的若干关键技术"资助项目(G2000036508);国家高技术研究发展计划"SOC片上系统重大专项"资助项目(2003AA1Z1100);国家自然科学基金资助项目(60372021)

摘　　要：JTAG作为测试标准已为芯片设计与制造厂商接受和应用。文章概述了JTAG技术在测试领域的典型应用。同时,随着深亚微米工艺的采用,以及千兆时钟时代的来临和SOC的发展,JTAG已出现很多新的应用和实现方法。着重探讨了JTAG的发展,及其在信号完整性测试、嵌入式调试、差分信号测试等技术中的应用。As an IEEE test standard, JTAG is accepted and used by many IC design companies and manufacturers, The application of JTAG in printed circuit board is described. The latest development of JTAG technology and its applications in signal integrity test, embedded test and differential signal test are discussed in particular.

关 键 词：JTAG SOC 嵌入式在线仿真器 EJTAG 信号完整性 测试标准 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]