电子元器件的贮存可靠性及评价技术  

作　　者：杨丹[1] 恩云飞[1] 黄云[1] 

机构地区：[1]信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心,广东广州510610

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2005年第B12期71-74,共4页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面。阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。

关 键 词：贮存可靠性 长期自然贮存 极限应力试验 加速贮存寿命试验 

分 类 号：TB114.3[理学—概率论与数理统计] TB24[理学—数学]