彩管荫罩热拱效应的分析与研究  

Investigation of the Hot Doming Effect in Shadow Mask

作　　者：费民权 焦宗平 高岚 

机构地区：[1]彩虹集团电子股份有限公司技术中心,陕西咸阳712021

出　　处：《真空电子技术》2005年第5期28-32,共5页Vacuum Electronics

摘　　要：本文通过热拱效应现象,叙述了常用的分析评价方法,并简要介绍了热拱对策手段。By investigating the hot doming phenomenon, this paper descrbes the typical analysis weighting method, and briefly discusses the countermeasures to eliminate the hot doming effects.

关 键 词：荫罩 热拱 温升 色纯 测试 彩管 

分 类 号：TN141.32[电子电信—物理电子学]