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作 者:张鹰子[1] 王志[1] 向建勇[1] 闻海虎[1]
机构地区:[1]中科院物理研究所超导国家重点实验室,北京100080
出 处:《低温物理学报》2005年第A02期844-848,共5页Low Temperature Physical Letters
基 金:国家自然科学基金(No.10174091)的资助~~
摘 要:我们在磁场中分别测量了最佳掺杂的YBa2Cu3O7-δ、钙0.2掺杂的Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ及钙0.5掺杂的Pr1-xCaxBa2Cu3O7-δ薄膜的电阻温度关系.利用最近Zhang et al.[Phys.Rev.B71(2005),052502]提出的热激活能的分析方法对薄膜的磁通特性进行了分析、比较与讨论.The resistance versus temperature relations of optimally doped YBa2Cu3O7-δ thin film, Y1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin film with x= 0.2, and Pr1-xCaxBa2Cu3O7-δ thin film with x = 0.5 were tested in magnetic fields. The data were analyzed, compared, and discussed by using the approach which recently suggested by Zhang et al. [Phys. Rev. B 71(2005), 052502 ].
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