TPD／Alq_3发光特性及其界面状态的XPS分析  

Analysis of the luminescent characteristic and interface state using XPS of the TPD/ITO sample

作　　者：欧谷平[1] 宋珍[2] 徐勇[1] 张福甲[1] 

机构地区：[1]兰州大学物理科学与技术学院,甘肃兰州730000 [2]北京机械工业学院基础部,北京100085

出　　处：《兰州大学学报（自然科学版）》2005年第6期82-85,共4页Journal of Lanzhou University(Natural Sciences)

基　　金：国家自然科学基金(60276026);甘肃省自然科学基金(ZS031-A25-012-G)资助项目.

摘　　要：对结构为ITO／TPD／Alq3／Al的有机电致发光器件电致发光光谱分析,发现与Alq3的荧光峰相 比发生了约5 nm红移,从而推断是由于TPD／Alq3界面处形成的激基复合物发光所致．通过X射线光 电子能谱(XPS)分析,发现了器件的激基复合物起源于Alq3分子和TPD分子的相互作用．Through electroluminescence spectrum analysis of organic electroluminescence ITO/TPD/Alq3/Al device, 5 nm red shift for Alq3 fluorescence peak has been found, which indicates that exciplex luminescence of interface of TPD/Alq3leads to this result. Through XPS analysis, we draw the conclusion that exciplex originates from Alq3 and TPD molecule＇s interacting.

关 键 词：激基复合物 电致发光光谱 红移 XPS 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学] O621.15[理学—有机化学]