背板测试系统  

Backplane Test System Design based on FPGA

作　　者：张友[1] 郑世宝[1] 

机构地区：[1]上海交通大学

出　　处：《电子测量技术》2005年第6期65-65,67,共2页Electronic Measurement Technology

摘　　要：采用可编程逻辑器件WPGA作为主控单元实现对背板测试系统的通用设计方法。阐述测试系统设计中的关键技术问题。在实现和应用方面,由于运用通用元器件,易于硬件实现和成本控制,对多点测试系统具有很高的实用价值。A general method for backpanel test system is present using FPGA. Key techniques are described in test system design. The system has practical value for multi-point test system in implementation and application.

关 键 词：可编程逻辑器件 PCI接口 RS485接口 背板测试系统 成本控制 

分 类 号：TN762[电子电信—电路与系统]