X射线二极管时间特性研究  

Research on time characteristics of soft X-ray diode

作　　者：孙可煦[1] 江少恩[1] 易荣清[1] 崔延莉[1] 丁永坤[1] 刘慎业[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院激光聚变研究中心

出　　处：《物理学报》2006年第1期68-75,共8页Acta Physica Sinica

基　　金：国家高技术研究发展计划(批准号:863-804-3)资助的课题~~

摘　　要：研究X射线二极管（XRD）时间特性．XRD是构成软X射线能谱仪的主要部件，它用于激光等离子体发射软X射线谱测量．实验利用激光聚变研究中心的200TW激光器（激光能量-6J，脉冲宽度-30fs）打金箔靶产生的X射线发射谱，用滤片（At）-XRD探测系统测量，探测信号由高频电缆（SUJ-50-10）传输和宽带示波器（TDS694C和TDS6604B）记录．实验数据进行了线性拟合和比对分析．In this paper the time characteristics of soft X-ray diode （XRD） is studied. XRD is the importance component of soft X-ray spectrometer, which measures the soft X-ray spectrum emited by laser-plasma. The experiment utilizes the 200TW laser facility with energy - 6J and pulse width - 30fs at the Laser Fusion Research Center of CAEP. The Au foil target irradiated by laser pulse produced X-ray emission, the filter（Al）-XRD system measures the X-ray signal. The high frequency cable （SUJ-50） transmits the electrical signal, a broad band oscillograph （TDS694C and TDS6604B） registers the signal. Linearity fit and comparison analysis of experimental data are performed.

关 键 词：X射线二极管 时间特性 软X射线能谱仪 数据处理 

分 类 号：TN31[电子电信—物理电子学]