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作 者:张登红[1] 董晨钟[1] 颉录有[1] 丁晓斌[1] 符彦飙[1]
机构地区:[1]西北师范大学物理与电子工程学院,兰州730070
出 处:《物理学报》2006年第1期112-118,共7页Acta Physica Sinica
基 金:国家自然科学基金(批准号:10274062;10376026;10434100);教育部优秀青年教师资助计划项目;兰州重离子加速器国家实验室原子核理论中心基金;西北师范大学科技创新工程项目(批准号:NWNU_KJCXGC_214)资助的课题~~
摘 要:在相对论多组态Dirac_Fock理论基础上,发展了计算双电子复合截面的程序。并以类锂C3+,Ar15+,Kr33+和U89+等离子为例,详细计算了共振双激发态1s2l2l′的辐射衰变率、Auger衰变率及相应的双电子复合截面。对于C4+,Arl6+和Kr34+离子的结果与已有的计算和实验结果都能很好地符合;对于U90+离子,则重点讨论了Breit效应对双电子复合截面的贡献。Based on the muhiconfiguration Dirac-Fock method, a new program was developed for the calculation of cross cections of dielectronic recombination (DR). As an example, the decay rates and the corresponding DR cross sections have been systematically calculated for the doubly excited state 1s2121′ of C^3+,Ar^15+,Kr^33+ and U^89+ ions. For C^4+,Ar^15+ and Kr^34+ ions, a good agreement has been found between the present calculations and the previous theoretical and experimental results; for U^90+ ion, the effect of the Breit interation on the DR cross sections has been emphasized especially.
分 类 号:O561.4[理学—原子与分子物理]
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