利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能  

作　　者：程礼椿[1] 

机构地区：[1]华中理工大学,武汉430074

出　　处：《高压电器》1996年第5期28-32,共5页High Voltage Apparatus

摘　　要：介绍利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能的技术。在阐明真空间隙击穿和微放电机理的基础上,引用国外最近的研究结果对预测的可能性给于证明,最后对它的应用问题作了讨论。

关 键 词：微放电系统 真空触头材料 耐电压 

分 类 号：TM503.5[电气工程—电器]