用原子力显微镜观察薄带断面的实验方法  

An experimental method of AFM investigation on ribbon′s cross-section

作　　者：吴文慧[1] 方允樟[1] 吴锋民[1] 施方也[1] 

机构地区：[1]浙江师范大学数理学院,浙江金华321004

出　　处：《浙江师范大学学报（自然科学版）》2006年第1期42-46,共5页Journal of Zhejiang Normal University:Natural Sciences

基　　金：浙江省自然科学基金资助项目(602147);浙江省青年科技人员专项基金资助项目(RC02069);浙江省科技计划资助项目(2003C31007)

摘　　要：介绍了用原子力显微镜(AFM)观察厚度为几十μm的薄带断口形貌的实验方法.其主要技术是利用AFM的反馈系统来寻找μm量级的断面,从而实现薄带断口形貌的分析.将利用该方法得到的Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9薄带断口的AFM图像与其通常的薄带表面的AFM图像进行比较,发现通过断口的AFM形貌观测可获得不同于表面观测的薄带内部结构的信息,是研究薄带介观结构的一种有效方法.An experimental method of using atomic force microscope （AFM） to investigate the ribbons cross-section was introduced. The main technique of this method was making use of the feedback system to seek the micron-size fractal surface, thereby gaining the ribbon＇s cross-section topography. Compared with the AFM images of Fe13.5Cu, Nb3Si13.5 B9 ribbon＇s surface, the ones obtained from investigation on ribbon＇s cross-section could present rich and different structure information. This could be an effective method for studying mesostructure of ribbons.

关 键 词：AFM 薄带 断面 介观结构 

分 类 号：TB303[一般工业技术—材料科学与工程]