检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]EDN
出 处:《电子设计技术 EDN CHINA》2006年第2期58-58,60,62,64,66,68,共6页EDN CHINA
摘 要:随着数字集成电路(IC)的设计变得更加复杂,验证其功能的工作也越来越复杂了。在能被设计的门电路数量和能在合理时间内被验证的门电路数量之间一直存在差距,而这些年来,EDA厂商们在缩小这种差距方面几乎无所作为。As digital-IC designs have become more complex,so too,has the task of verifying their functions.Over the years,EDA vendors have done little to reduce the gap between the number of gates you can design and the number you can verify in a reasonable amount of time.
关 键 词:ASIC 构建 原型 数字集成电路 电路数 EDA 设计 验证
分 类 号:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] I206.2[文学—中国文学]
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