基于竞争失效模型的金属化膜脉冲电容器产品可靠性研究  被引量:18

Reliability Analysis of Metallized-film Pulse Capacitor under Competing Failure Modes

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作  者:赵建印[1] 刘芳[1] 孙权[1] 周经伦[1] 

机构地区:[1]国防科学技术大学信息系统与管理学院系统工程系,湖南长沙410073

出  处:《系统工程理论与实践》2006年第1期60-64,共5页Systems Engineering-Theory & Practice

基  金:863高技术项目(2004AA845023)

摘  要:在确定产品性能退化量分布模型的基础上,给出了突发型与退化型失效的竞争失效的一般模型,该模型考虑了突发失效率与退化量的相关性.通过分析金属化膜脉冲电容器的退化失效机理,利用该竞争失效模型,对金属化膜脉冲电容器进行了可靠性分析,确定了该型电容器的可靠度函数.Competing risk involving multiple failures are becoming increasingly common and important in practice. The paper investigates the modeling of competing risk problems involving both traumatic and degradation failures. Dependence of traumatic failure intensities on the degradation level are included into the models. Then, by analyzing degradation mechanism of metallized-film capacitor, this paper presents a life distribution model of metallized-film pulse capacitor using the models.

关 键 词:金属化膜脉冲电容器 退化失效 竞争失效 可靠性 

分 类 号:TB114.3[理学—概率论与数理统计]

 

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