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作 者:宋春梅[1] 吴云龙[1] 刘华军[1] 教晓东[1] 王正道[1] 熊玉峰[1] 李来风[1]
机构地区:[1]中国科学院理化技术研究所
出 处:《低温物理学报》2006年第1期82-85,共4页Low Temperature Physical Letters
摘 要:本文主要研究了在77K温度下,拉伸应变和弯曲应变对Bi-2223/Ag超导带材临界电流的影响,得到了超导带材的临界电流随拉伸强度、曲率半径变化规律.实验结果显明,拉伸作用在超导带材上产生的形变对其临界电流(Ic)的影响存在一个临界值εirr=0.3%.形变小于此临界值,Ic变化较小,超过此临界值,临界电流急剧下降.弯曲实验同样存在类似关系.同步辐射光源对超导带材检测表明,在形变情况下,超导氧化物陶瓷芯的微裂纹迅速增加和交织是Ic降低的主要原因.Effects of mechanical properties on the critical current of Bi-2223/Ag tapes have been studied at 77K. There is a critical value. The conductor's critical current (Ic ) keeps nearly constant when the tensile strain is low than the critical value. As tensile strain increase, Io decreases slowly at the beginning, and then degrades sharply near 0. 3% of strain. Degradations of Ic caused by the bending strain are in good degradation of Ic is agreement with the tensile testing results. Synchrotron radiation shows that the related directly with propagation of micro-crack in the oxide layer under tensile tests.
分 类 号:TM26[一般工业技术—材料科学与工程] Q178.531[电气工程—电工理论与新技术]
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