基于FPGA的低功耗测试生成器的设计  

A Low Power Test Generator Design Using FPGA

作　　者：陈卫兵[1] 何娟[1] 

机构地区：[1]阜阳师范学院,安徽阜阳236032

出　　处：《中国仪器仪表》2006年第2期48-49,共2页China Instrumentation

摘　　要：文中介绍了一种以LFSR为基础的准单输入跳变序列测试生成器,并且利用EDA技术在FPGA芯片上进行了设计实现。为产生低成本、低功耗的电子系统测试信号提供了一种简单易行的方法。This paper introduces a low power test generator design based on pseudo-random sequence generator which is realized on FPGA chip by EDA technique. It provides a simple and feasible way of producing test signals for electronic systems with low costs and low power.

关 键 词：EDA FPGA LFSR 伪随机序列 准单输入跳变序列 

分 类 号：TN98[电子电信—信息与通信工程]