氢化物发生一原子荧光光谱法测定精锡中的微量铋  

The HG-AFS Determination of Trace Bi in Purity Sn

作　　者：王劲榕 毛禹平 王铭 杨毅 刘英波 

机构地区：[1]云南省有色金属及制品质量检测中心,云南昆明650031

出　　处：《云南冶金》2006年第1期59-60,共2页Yunnan Metallurgy

摘　　要：采用HCl+HBr挥发除锡,以HG-AFS法测定精锡产品中微量铋,效果良好。Vohize Sn with Hu ＋ HBr, Dotermination of Trace Bi in Purity Sn products by HG--AFS with saris-factory results.

关 键 词：精锡 微量铋 氢化物-原子荧光光谱法 

分 类 号：O65[理学—分析化学]